Russian version
English version
ОБ АЛЬЯНСЕ | НАШИ УСЛУГИ | КАТАЛОГ РЕШЕНИЙ | ИНФОРМАЦИОННЫЙ ЦЕНТР | СТАНЬТЕ СПОНСОРАМИ SILICON TAIGA | ISDEF | КНИГИ И CD | ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ | УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ | РОССИЙСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ | НАНОТЕХНОЛОГИИ | ЮРИДИЧЕСКАЯ ПОДДЕРЖКА | АНАЛИТИКА | КАРТА САЙТА | КОНТАКТЫ
 
Нанотехнологии
 
Для зарегистрированных пользователей
 
РАССЫЛКИ НОВОСТЕЙ
IT-Новости
Новости компаний
Российские технологии
Новости ВПК
Нанотехнологии
 
Поиск по статьям
 
RSS-лента
Подписаться
Nano-новости

А.Чубайс: продукция отечественной наноиндустрии гарантированно безопасна

Российская корпорация нанотехнологий (РОСНАНО) представила в рамках своей экспозиции на выставке «Метрология-2009» работы по обеспечению единства измерений, стандартизации и сертификации в наноиндустрии. В 2009 году в Специализированной выставке-конкурсе «Метрология-2009», прошедшей с 19 по 21 мая, приняли участие более 140 компаний из 8 стран мира, более 5 000 специалистов промышленных предприятий, научно-исследовательских организаций и конструкторских бюро из России и СНГ, сообщает пресс-служба РОСНАНО.

"Продукция отечественной наноиндустрии - не просто продукция с приставкой «нано». Это, в первую очередь, продукция гарантированно безопасная. Корпорация принимает участие в проводимой выставке второй раз и считает, что развитие измерений в наноиндустрии является одной из приоритетных задач для обеспечения выпуска современной конкурентоспособной продукции. Уверен, что выставка будет способствовать созданию отечественных высоких технологий, послужит успешному развитию работ в перспективных направлениях российской науки и техники", - заявил в своем обращении к участникам выставки председатель правления, генеральный директор РОСНАНО Анатолий Чубайс.

Корпорация представила на выставке экспонаты в области современных средств измерения и контроля функциональных характеристик и безопасности нанопродукции и нанотехнологий, проходящих экспертизу в Корпорации.

По итогам конкурса «За единство измерений», прошедшего в рамках выставки, РОСНАНО получила платиновую медаль «Средства измерений двойного назначения» за нормативное и метрологическое обеспечение инновационной сферы российской экономики.

Ссылки по теме:


  Рекомендовать страницу   Обсудить материал Написать редактору  
  Распечатать страницу
 
  Дата публикации: 26.05.2009  

ОБ АЛЬЯНСЕ | НАШИ УСЛУГИ | КАТАЛОГ РЕШЕНИЙ | ИНФОРМАЦИОННЫЙ ЦЕНТР | СТАНЬТЕ СПОНСОРАМИ SILICON TAIGA | ISDEF | КНИГИ И CD | ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ | УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ | РОССИЙСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ | НАНОТЕХНОЛОГИИ | ЮРИДИЧЕСКАЯ ПОДДЕРЖКА | АНАЛИТИКА | КАРТА САЙТА | КОНТАКТЫ

Дизайн и поддержка: Silicon Taiga   Обратиться по техническим вопросам  
Rambler's Top100 Rambler's Top100