Russian version
English version
ОБ АЛЬЯНСЕ | НАШИ УСЛУГИ | КАТАЛОГ РЕШЕНИЙ | ИНФОРМАЦИОННЫЙ ЦЕНТР | СТАНЬТЕ СПОНСОРАМИ SILICON TAIGA | ISDEF | КНИГИ И CD | ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ | УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ | РОССИЙСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ | НАНОТЕХНОЛОГИИ | ЮРИДИЧЕСКАЯ ПОДДЕРЖКА | АНАЛИТИКА | КАРТА САЙТА | КОНТАКТЫ
 
Нанотехнологии
 
Для зарегистрированных пользователей
 
РАССЫЛКИ НОВОСТЕЙ
IT-Новости
Новости компаний
Российские технологии
Новости ВПК
Нанотехнологии
 
Поиск по статьям
 
RSS-лента
Подписаться
Nano-новости

РОСНАНО организует школу нанометрологии

РОСНАНО проведет школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноидустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур», в рамках которой пройдут выставка и презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей, в том числе, НТ-МДТ, CSM-INSTRUMENTS, Bruker, Agilent, Beckman Coulter и др.

Как сообщает пресс-служба РОСНАНО, Российская корпорация нанотехнологий (РОСНАНО) совместно с Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и Научным советом РАН по электронной микроскопии организует вторую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноидустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».Школа, проводимая в целях подготовки и повышения квалификации кадров для проведения сертификационных испытаний и метрологических измерений, пройдет в период с 28 по 30 мая 2009 г.

В ходе занятий специалисты центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий ознакомятся с современными методиками метрологических испытаний продукции наноиндустрии, применимых, в частности, в системе добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА». Всего по приглашению РОСНАНО школу посетят 140 слушателей, в том числе 15 магистрантов МФТИ - МИСиС, проходящих обучение в рамках реализации пилотного образовательного проекта Корпорации.

Программа обучения включает в себя тематические лекции по основным методическим подходам к исследованию наноструктурированных материалов и наноструктур разных типов. Основное внимание будет уделено измерениям пространственных характеристик исследуемых объектов. В ходе школы также планируется обсуждение актуальных проблем нанометрологии.

"Сеть испытательных центров, которая будет сотрудничать с системой сертификации «НАНОСЕРТИФИКА», пока формируется. В ближайшее время удостоверение на проведение испытаний получат первые 13 аккредитованных лабораторий, но в перспективе в систему войдут сотни центров. Поэтому у нас есть острая необходимость в квалифицированных кадрах в области сертификации и метрологии, и организация серии тематических школ «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии» на регулярной основе полностью оправданна", - подчеркнул руководитель сертификационного центра РОСНАНО, д. ф.-м. н. Виктор Иванов.

В рамках школы пройдет выставка и презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей, в том числе, НТ-МДТ, CSM-INSTRUMENTS, Bruker, Agilent, Beckman Coulter и др.

Ссылки по теме:


  Рекомендовать страницу   Обсудить материал Написать редактору  
  Распечатать страницу
 
  Дата публикации: 06.05.2009  

ОБ АЛЬЯНСЕ | НАШИ УСЛУГИ | КАТАЛОГ РЕШЕНИЙ | ИНФОРМАЦИОННЫЙ ЦЕНТР | СТАНЬТЕ СПОНСОРАМИ SILICON TAIGA | ISDEF | КНИГИ И CD | ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ | УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ | РОССИЙСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ | НАНОТЕХНОЛОГИИ | ЮРИДИЧЕСКАЯ ПОДДЕРЖКА | АНАЛИТИКА | КАРТА САЙТА | КОНТАКТЫ

Дизайн и поддержка: Silicon Taiga   Обратиться по техническим вопросам  
Rambler's Top100 Rambler's Top100